Afficher la notice abrégée
| dc.contributor.author |
Mahamdi Ramdane |
|
| dc.contributor.author |
Djahèi F. |
|
| dc.date.accessioned |
2022-05-24T09:54:37Z |
|
| dc.date.available |
2022-05-24T09:54:37Z |
|
| dc.date.issued |
2017-01-01 |
|
| dc.identifier.uri |
http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/5811 |
|
| dc.description |
120 f. |
|
| dc.language.iso |
fre |
|
| dc.subject |
Electronique |
|
| dc.title |
Modélisation des mécanismes de dégradation de l'interface Si/SiO2 des transistors MOS |
|
| dc.coverage |
1 Disponible à la salle de recherche
2 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale |
|
Fichier(s) constituant ce document
Ce document figure dans la(les) collection(s) suivante(s)
Afficher la notice abrégée