Dépôt institutionnel de l'universite Freres Mentouri Constantine 1

Modélisation des mécanismes de dégradation de l'interface Si/SiO2 des transistors MOS

Modélisation des mécanismes de dégradation de l'interface Si/SiO2 des transistors MOS

Mahamdi Ramdane; Djahèi F.
URI: http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/5811
Date: 2017-01-01

Description:

120 f.

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