Elaboration et étude par microscopie électronique à transmission en coupes transversales de l'influence des traitements thermiques sur les interfaces Cr/Si et le silicium amorphe en couches minces

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dc.contributor Bouabellou A.
dc.creator Mirouh Kamel
dc.date.accessioned 2016-11-14T13:23:38Z
dc.date.issued 2017-01-01
dc.identifier http://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3058
dc.identifier 3058
dc.identifier 20110221u u u0frey50 ba
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/123456789/9591
dc.description 100 f.
dc.language fre
dc.subject Physique
dc.title Elaboration et étude par microscopie électronique à transmission en coupes transversales de l'influence des traitements thermiques sur les interfaces Cr/Si et le silicium amorphe en couches minces
dc.coverage 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale


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