Dépôt institutionnel de l'universite Freres Mentouri Constantine 1

Caractérisation des couches minces du silicium amorphe hydrogéné cristalisées par le laser excimère KrF

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dc.contributor.author Bouteffah (Née Bouhdjar) Nassima
dc.contributor.author Mirouh K.
dc.date.accessioned 2022-05-30T09:38:55Z
dc.date.available 2022-05-30T09:38:55Z
dc.date.issued 2005-01-01
dc.identifier.uri http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/12130
dc.description 72 f.
dc.language.iso fre
dc.subject Physique
dc.title Caractérisation des couches minces du silicium amorphe hydrogéné cristalisées par le laser excimère KrF
dc.coverage 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la bibliothèque centrale


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