| dc.contributor.author | Mirouh Kamel | |
| dc.contributor.author | Bouabellou A. | |
| dc.date.accessioned | 2022-05-30T09:37:39Z | |
| dc.date.available | 2022-05-30T09:37:39Z | |
| dc.date.issued | 2017-01-01 | |
| dc.identifier.uri | http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/11910 | |
| dc.description | 100 f. | |
| dc.language.iso | fre | |
| dc.subject | Physique | |
| dc.title | Elaboration et étude par microscopie électronique à transmission en coupes transversales de l'influence des traitements thermiques sur les interfaces Cr/Si et le silicium amorphe en couches minces | |
| dc.coverage | 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale |
| Files | Size | Format | View |
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