Elaboration et étude par microscopie électronique à transmission en coupes transversales de l'influence des traitements thermiques sur les interfaces Cr/Si et le silicium amorphe en couches minces

dc.contributor.author	Mirouh Kamel
dc.contributor.author	Bouabellou A.
dc.date.accessioned	2022-05-30T09:37:39Z
dc.date.available	2022-05-30T09:37:39Z
dc.date.issued	2017-01-01
dc.identifier.uri	http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/11910
dc.description	100 f.
dc.language.iso	fre
dc.subject	Physique
dc.title	Elaboration et étude par microscopie électronique à transmission en coupes transversales de l'influence des traitements thermiques sur les interfaces Cr/Si et le silicium amorphe en couches minces
dc.coverage	01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale