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Effet de la fréquence des champs électroniques oscillants sur la tension de rupture par avalanche des diodes semiconducteurs

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dc.contributor.author Moufek Abderrahmane
dc.date.accessioned 2022-05-30T09:35:04Z
dc.date.available 2022-05-30T09:35:04Z
dc.date.issued 2017-01-01
dc.identifier.uri http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/11507
dc.description 144 f.
dc.language.iso fre
dc.subject Electronique
dc.title Effet de la fréquence des champs électroniques oscillants sur la tension de rupture par avalanche des diodes semiconducteurs
dc.coverage 1 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale


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