Etude de la résolution en profondeur lors de l'analyse par spectrométrie de masse des ions secondaires.Mise au point d'une procédure de déconvolution partielle et applications

dc.contributor.author	Benouakta M.
dc.contributor.author	Bendjama Hocine
dc.date.accessioned	2022-05-30T09:34:42Z
dc.date.available	2022-05-30T09:34:42Z
dc.date.issued	2017-01-01
dc.identifier.uri	http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/11459
dc.description	52 f.
dc.language.iso	fre
dc.subject	Electronique
dc.title	Etude de la résolution en profondeur lors de l'analyse par spectrométrie de masse des ions secondaires.Mise au point d'une procédure de déconvolution partielle et applications
dc.coverage	01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la bibliothèque centrale